Otsuka大塚電子|塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司

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Otsuka單元間隙檢測裝置RETS系列

支持從反射/透射型 LCD 封閉單元到帶彩色濾光片的空單元的各種單元
蘇州代理OTSUKA激活測量儀 RETS-100nx

支持OLED用偏光板、層疊型相位差板、IPS液晶相位差板偏光板等各種薄膜的相位差測量裝置。實現與超高 Re.60000 nm 兼容的高速、高精度測量。可以“無剝離”和“無損”測量薄膜的層壓狀態。此外，它配備了簡單的軟件和校正功能，支持由于樣品重新定位而導致的錯位，從而實現簡單且高精度的測量。
蘇州代理OTSUKA 線掃描膜厚儀在線式

它是一種可以在在線薄膜生產現場測量薄膜厚度的設備。通過將開創的光譜干涉儀與新開發的高精度膜厚計算處理技術相結合，可以以 0.01 秒的測量間隔以*短的。
蘇州代理OTSUKA光譜干涉晶片測厚儀SF-3

在晶圓等的研磨和拋光過程中，晶圓和樹脂的厚度以超高速和高精度非接觸式測量。
蘇州代理大冢電子光譜橢偏儀 FE-5000 / 5000S

除了可以進行高精度薄膜分析的光譜橢偏儀外，我們還通過實現測量角度的自動可變機構來支持所有類型的薄膜。除了傳統的旋轉式光子檢測器方法外，還通過提供相位差板的自動裝卸機構提高了測量精度。
蘇州代理大冢電子膜厚監測儀FE-300

它是一種緊湊且價格低廉的薄膜厚度計，通過高精度光學干涉法實現薄膜厚度測量，操作簡單。我們采用一體式外殼，將必要的設備容納在主體中，實現穩定的數據采集。可以通過以低廉的價格獲得優良反射率來分析光學常數。
蘇州代理日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM

OPTM 是一種通過使用顯微光譜法測量微小區域的優良反射率，實現高精度薄膜厚度和光學常數分析的設備。各種薄膜、晶片、光學材料和多層薄膜等涂膜的厚度可以非破壞性和非接觸方式測量。測量時間為1秒/點的高速測量是可能的。它還配備了軟件，即使是初學者也可以輕松分析光學常數。
蘇州代理光纖動態光散射光度計 FDLS-3000

使用固態激光器和高靈敏度檢測器（冷卻光電子雙管），可以測量0.5納米至5000納米顆粒的粒度和粒度分布（粒度和粒度分布）。
OTSUKA大塚電子動態光散射光度計 DLS-6500series

粒度/粒度分布（粒度/粒度分布）可以使用動態光散射法測量。
蘇州OTSUKA大冢電子動態光散射光度計 DLS-8000

可以使用動態光散射法測量粒度/粒度分布（粒度/粒度分布）和使用靜態光散射法測量優良分子量/慣性半徑/秒維里系數。
OTSUKA大冢電子高靈敏度差示折光儀 DRM-3000

通過注射器方法可以很容易地進行樣品注入。數據處理很容易，因為控制和數據采集是從個人計算機執行的。可以進行低噪音、高穩定性和良好再現性的測量。通過靜態光散射法測定重均分子量的 Dn / dc 測量表面活性劑等膠束臨界濃度（cmc）的測定聚合物吸附量的測定聚合物共聚物的成分分析脂質體相變溫度的測定等
OTSUKA大冢電子 nanoSAQLA帶自動進樣器 AS50

nanoSAQLA的特點 1臺輕松連續測定5個樣品實現了沒有自動進樣器難以實現的多個樣品的連續測定也可以通過改變每個樣品的條件進行測量。對應從精益到富的系統標準測量時間為1分鐘的高速測量自動調整*佳測量位置，從濃縮樣品到稀釋樣品，實現約1分鐘的高速測量。配備簡易測量功能（一鍵即可開始測量）軟件簡單易懂，無需任何復雜操作內置非浸入式電池塊，不分液無污染因為每個電池都是獨立的，所以無需擔心污染。配備溫度梯度功能溫度可輕松設置 ■ AS50的特點連續測量多達 50 個樣品即使在測量過程中也可以添加樣品簡單方便的樣品組（一次*多可更換 50 個樣品）兼容有機溶劑（玻璃一次性電池）樣品容量至少 0.4 ml 測量范圍（理論值）粒徑0.6nm～10μm 濃度范圍 0.00001-40% 溫度范圍0-90°C *
OTSUKA多檢體納米粒徑量測系統 nanoSAQLA

一臺5檢體輕松連續量測一鍵測定簡易功能對應低濃度到高濃度標準測定時間一分高速測定非浸入式、非分注式連續量測搭載溫度梯度(0 ~ 90℃) 對應多國語言操作介面(繁體中文、日文、英文、簡體中文、韓文
OTSUKA大冢電子Zeta電位測量儀ELSZ-2000S

*新的高靈敏度APD實現了更高的靈敏度和更短的測量時間通過自動溫度梯度測量可以進行退化/相變溫度分析可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量增加了廣泛的分子量測量和分析功能支持懸浮高濃度樣品的粒度測量非常適合在界面化學、無機物、半導體、高分子、生物、制藥、醫藥等領域中，不僅涉及微粒子，而且還涉及薄膜、平板等表面科學的基礎研究和應用研究。
OTSUKA大冢電子Zeta電位測量儀ELSZ-2000Z

*新的高靈敏度APD實現了更高的靈敏度和更短的測量時間通過自動溫度梯度測量可以進行退化/相變溫度分析可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量支持懸浮高濃度樣品的 zeta 電位測量測量電池中的電滲流，并通過繪圖分析提供高度準確的 zeta 電位測量結果。支持高鹽濃度溶液的zeta電位測量支持小面積樣品的平板zeta電位測量非常適合在界面化學、無機物、半導體、高分子、生物、制藥、醫藥等領域中，不僅涉及微粒子，而且還涉及薄膜、平板等表面科學的基礎研究和應用研究。
OTSUKA大塚電子粒徑量測儀ELSZ-2000ZS

特殊長度 *新的高靈敏度APD實現了更高的靈敏度和更短的測量時間通過自動溫度梯度測量可以進行退化/相變溫度分析可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量增加了廣泛的分子量測量和分析功能支持懸浮高濃度樣品的粒徑和 zeta 電位測量測量電池中的電滲流，并通過繪圖分析提供高度準確的 zeta 電位測量結果。支持高鹽濃度溶液的zeta電位測量支持小面積樣品的平板zeta電位測量采用非常適合在界面化學、無機物、半導體、高分子、生物、制藥、醫藥等領域中，不僅涉及微粒子，而且還涉及薄膜、平板等表面科學的基礎研究和應用研究。新型功能材料領域燃料電池相關（碳納米管、富勒烯、功能薄膜、催化劑、納米金屬）生物納米相關（納米膠囊、樹枝狀大分子、DDS、生物納米顆粒）、納米氣泡等。陶瓷/著色材料工業領域陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）表面改

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